
FLIM LABS S.r.l.和TEDIEL S.r.l.
摘要:
量子光子学在计算、密码学、计量和传感领域展现出突破性潜力,但其复杂性和高昂成本往往令其难以企及。我们推出了一款完全集成的PC控制量子光子学套件,将稳定激光器、单光子探测器与高分辨率单光子计数器整合于紧凑单元。凭借直观的软件设计和模块兼容性,该系统可实现122皮秒均方根响应时间、高达3.5Mcps的实时处理能力,以及低于1.5ps/15ps的DNL/INL值。这款经济实惠且便携的交钥匙系统,通过让新兴实验室和教育项目能够轻松获取高性能量子光子学技术,为前沿研究、教学和科普工作带来普惠性突破。
简 介
量子光子学为新型科学与工业范式奠定基础,驱动着光量子计算[7]、量子密钥分发[8]、量子增强计量学[9]和量子分辨率成像[10]等前沿领域的发展。这些应用需要集成化仪器设备——包括稳定脉冲激光器、低噪声单光子探测器以及高分辨率时间数字转换器——以实现光子生成、检测与计时的精准稳定。然而,这些组件往往存在碎片化、成本高昂及操作复杂等问题,导致小型研究团队、教育机构及科普项目难以获得这些设备的支持。
图1:量子光子学套件的示意图,灰色[2]显示FLIM LABS [1]激光器,黑色[3,4]显示单光子探测器,灰色[6]显示TEDIEL [5] FELIX TDC模块,橙色带状[6]显示运行在PC上的TDC软件。
为解决这些挑战,FLIM LABS [1]和TEDIEL [5]推出了紧凑、集成且高性能的量子光子学套件(图1),该套件可通过单台PC实现全面控制。量子光子学套件集成了三个核心模块:
• FELIX TDC模块:提供12 ps r.m.s.单次精确脉冲和高达140 Msps的处理速率[6]。由TEDIEL S.r.l.开发。
整个系统实现了122 ps r.m.s的仪器响应函数(IRF)、高达3.5 Mcps的实时吞吐量以及微分/积分非线性(DNL,INL)分别低于1.5皮秒和15皮秒,使其成为量子光学实验中光子符合、时间标记和统计事件重建的理想选择。该设备集成度高、设计紧凑、成本低廉且界面直观,不仅适用于前沿研究,更可应用于高校教学、实操培训及科研成果传播。我们致力于通过提供一套完整、易用且高性能的解决方案,让量子光子学仪器真正走进千家万户,为科研人员、教育工作者和学生群体赋能。
关于系统组件(包括激光模块、SPAD探测器和FELIX TDC)的所有技术细节均在第2节中详细阐述。第3节重点讨论了系统的线性验证,而第4节则对仪器响应函数(IRF)进行了深入表征分析。最后,第5节通过实验衰减时间测量,生动展示了该套件在实际量子光子学应用中的卓越效能。
材料和方法
在以下小节中,我们将描述构成量子光子学套件的每个模块的规格和运行特性:激光器(第2.1节)、SPAD探测器(第2.2节)和FELIX TDC(第2.3节)。
2.1 FLIM LABS,皮秒脉冲激光模块
量子光子学套件集成的激光模块[2]是一款紧凑型高性能脉冲光源,通过USB Type-C接口供电,并采用FlimLABS [1]生产的135×110×50毫米机箱封装。该设备支持405、445、488、520、532、635和850纳米等多波长选择,为量子光学及荧光应用提供灵活解决方案。其脉宽低至50皮秒(半高全宽),可调谐重复频率范围覆盖1 kHz至80 MHz,峰值功率最高可达150毫瓦。输出通过标准FC/PC单模光纤耦合,确保轻松稳定地集成到光学系统中。该激光器支持内外触发模式,接口兼容LVTTL(50Ω端接)和LVDS标准。用户既可通过PC软件配置参数,也可通过前面板的三个符合人体工学旋钮手动调节功率、重复频率及工作模式(连续或外部触发)。所有性能指标详见表1。
表1:FLIM LABS的USB供电皮秒脉冲激光器模块的性能参数。
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线性度测试
通过使用激光器和连接在FELIX单光子计数器1号通道的红移型雪崩光电二极管(SPAD)探测器进行码密度测试(CDT),我们获得了线性度数据。该测试通过生成两个不相关的电信号来实现,其中CDT数据实时采集自FELIX时间数字转换计数器(TDC)的两个可用硬件直方图之一。实验在最大功率下采用不同激光频率进行,同时调节红色SPAD的不同工作速率。所有测试案例中,绝对延迟非线性(DNL)值均低于1.5皮秒,绝对积分非线性(INL)值除80 MHz频率外,其他频率下均观测到小于15 ps的绝对非线性干涉(INL)值,其中80 MHz频率下的INL绝对值达到75 ps。表5中,针对每种情况,DNL和INL的数值均以绝对值(即ps)和相对值(以分位间隔(LSB)为单位的倍数)两种形式呈现。
表5:在SPAD不同计数率下进行的线性度测试结果。
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绝对
DNL/INL |
相对
DNL/INL |
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仪器响应函数
表6和图2显示了IRF随激光频率的变化。据推测,IRF的恶化是由于红移型雪崩光电二极管探测器的高计数率引起的堆积效应,因为3.5 Mcps的阈值被明显超过。
表6:在不同激光频率和红移SPAD探测器额定值(即,100%的激光功率和20%的牛奶浓度)下进行的IRF测试结果。
激光器重复频率 | SPAD计数率 | IRF FWHM/r.m.s. |
80 MHz | 45 Mcps | 1.7/0.7 ns |
40 MHz | 31 Mcps | 592/252 ps |
20 MHz | 18 Mcps | 421/179 ps |
10 MHz | 11 Mcps | 365/155 ps |
5 MHz | 7.2 Mcps | 403/171 ps |
2.5 MHz | 4.6 Mcps | 410/174 ps |
1.25 MHz | 4.3 Mcps | 388/165 ps |
图2:IRF测试结果,左侧为统计数据,右侧为FWHM,是在不同的激光频率和红移SPAD探测器计数率下进行的(即,激光功率为100%,牛奶浓度为20%)
表7和图3显示了IRF与牛奶浓度的关系。
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图4:IRF测试结果,左侧为统计数据,右侧为FWHM,是在不同功率和红移SPAD探测器计数率下进行的(即激光频率为1.25 MHz,牛奶浓度为20%)
试验性的荧光寿命测量
在激光器以最大功率运行并采用四种不同重复频率(即80、40、20和10 MHz)时,我们测量了荧光笔内部液体的衰减寿命。与先前测试相同,激光器连接至FELIX TDC的通道1,而红移型雪崩光电二极管探测器则连接至通道2。表9中列出的衰减寿命值是通过对FELIX TDC机载硬件直方图模块实时采集的直方图进行指数拟合获得的。
图5:在不同激光频率和红移SPAD探测器计数率下进行的衰减寿命结果统计(即,激光功率为50%)
图5展示了采集到的统计数据。此外可以观察到,在80 MHz和40 MHz频率下,周期(即12.5纳秒和25纳秒)过短,无法完整捕捉指数衰减过程(即40纳秒)。这解释了表9中记录的衰减寿命值(8.5纳秒和8.3纳秒)与在10 MHz和20 MHz频率下获得的结果(即8纳秒)之间的差异——在10 MHz和20 MHz条件下,完整的衰减趋势清晰可见。
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总结
参考文献
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