Project Description

纳米探针台

半导体器件的电气特性

纳米探针台SMARPROBE LX的开发旨在将纳米分辨闭环探测在效率和稳定性方面提升到一个新的水平。它允许定位多达八个探头来分析或操作固定在其样品台上的样品。该系统集成到电子显微镜中,用于5 nm晶体管的故障分析,或集成到光学显微镜装置中,用于大样品的大气探测。