Project Description

纳米探针台
半导体器件的电气特性
纳米探针台SMARPROBE LX的开发旨在将纳米分辨闭环探测在效率和稳定性方面提升到一个新的水平。它允许定位多达八个探头来分析或操作固定在其样品台上的样品。该系统集成到电子显微镜中,用于5 nm晶体管的故障分析,或集成到光学显微镜装置中,用于大样品的大气探测。
使用SmarAct的SMARPROBE进行纳米级精密电探测
卓越的性能
- 完全编码,分辨率为 1 nm
- 主动位置保持
- 扫描范围大,热漂移低
- 在全 30 x 30 mm 上进行大面积探测
- 高速 EBAC/EBIC 成像
高效且简单
- 一体化用户界面
- 所有探头的自动着陆和对准
- SEM 图像中的“点击”导航
- 团体运动和“步进与重复”
- 样品和探头的 CAD 导航
应用示例
有关所有应用笔记的概述,请单击此处。
SMARPROBE系统可用于探测最小的技术节点,因为SmarAct驱动器的高精度和主动温度控制使探头的热漂移低。
闭环定位允许用户在很短的时间内将针尖定位到兴趣点,并且电子束暴露尽可能少。安全接近运动和大扫描范围将降低在精确定位过程中损坏探头和样品的风险。由此产生的长寿命针尖与加载多个样品的能力相结合,使您能够大大提高样品的吞吐量。
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电子束吸收电流 (EBAC)
SMARPROBE系统可以通过直接在探头支架中实现的电流放大器进行升级。只需单击一下即可在纳米探测和电流放大之间切换。探头和放大器之间的短本地距离保证了低测量噪声和高测量带宽。电流放大通常用于故障分析技术,如电子束吸收电流(EBAC)或电阻对比成像(RCI),以定位金属线或过孔内的断开或短路。使用EBAC分析金属线网络的示例如图所示。
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主要规格
SmarActs的纳米探针台有多种配置,并具有多种选项和定制级别。下表提供了关键规格的印象。对于SMARPROBE系列的每个产品,下载部分提供了详细的规格表。
SMARPROBE Nanoprober |
|
Manipulator with Probe Mount
|
XYZ closed-loop
|
Number of Manipulators
|
≤ 8
|
Sample Stage
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XYZ closed-loop
|
Probing Area [mm]
|
25 x 25
|
Scan-Range in XYZ1 [µm]
|
> 10
|
Thermal Drift2 [nm/min]
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< 1
|
Cleaning
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Plasma Cleaning Compatible
|
Probe Mount3
|
Standard 0.25 or 0.5 mm diameter Tungsten probes
|
Electrical Connection4
|
Coax
|
1 在不发生定位器粘滑事件的情况下可以行进的距离,在其扫描范围内操作探头有助于大限度地减少振动。列出的扫描范围可与可选的 X-Extension
一起使用
2带可选的 L 型延长件
3可选配集成探头传感器,以检测与样品的接触
4也可提供三同轴连接
主要规格
SmarActs的纳米探针台有多种配置,并具有多种选项和定制级别。下表提供了关键规格的印象。对于SMARPROBE系列的每个产品,下载部分提供了详细的规格表。
SMARPROBE Nanoprober |
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Manipulator with Probe Mount
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XYZ closed-loop
|
Number of Manipulators
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≤ 8
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Sample Stage
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XYZ closed-loop
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Probing Area [mm]
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25 x 25
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Scan-Range in XYZ1 [µm]
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> 10
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Thermal Drift2 [nm/min]
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< 1
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Cleaning
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Plasma Cleaning Compatible
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Probe Mount3
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Standard 0.25 or 0.5 mm diameter Tungsten probes
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Electrical Connection4
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Coax
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1 在不发生定位器粘滑事件的情况下可以行进的距离,在其扫描范围内操作探头有助于大限度地减少振动。列出的扫描范围可与可选的 X-Extension
一起使用
2带可选的 L 型延长件
3可选配集成探头传感器,以检测与样品的接触
4也可提供三同轴连接
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Specification Sheets
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Specification Sheet – SMARPROBE SP4 & SP8218.8 KiB
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