单光子探测已经成为当今许多应用的标准方法,从时间分辨荧光光谱,到单分子探测,以及量子光学。单光子探测器是多种系统的关键部件之一。
单光子探测器的评价指标主要有光子探测效率、暗计数率、死时间和时间抖动等。
1)光子探测效率PDE:主要由光输入耦合效率、光吸收率、本征探测效率共同决定。是单光子探测器的核心性能指标参数,PDE越接近100%,探测器性能越优异。
2)暗计数率DCR:表征探测器的暗噪声水平的指标,用每秒钟暗计数的个数表示。
3)死时间(恢复时间):探测器探测一个光子后,性能恢复到可以进行下一次探测的时间,主要表征探测器的响应速度。
4)时间抖动timing jitter:表征光响应电子脉冲在时间上的不确定性。
AD200 可见光SPAD–单光子探测器插图
目前,有多种类型的单光子探测器,适用于单光子探测系统。如单光子计数型光电倍增管(PMT),微通道板PMT(MCP-PMT),混合型光电倍增管(Hybrid PMT detector),单光子雪崩光电二极管(SPAD),SPAD阵列探测器,超导纳米线单光子探测器(SNSPD),单光子相机等。

其中,SPAD具有量子效率高,脉冲后效应几率低,价格经济等优点,因此在单光子探测,单分子实验和FCS实验中广泛使用。

雪崩二极管

SPAD单光子探测器的主要元器件为雪崩二极管(avalanche photodiode)。在电子学中,二极管是一种具有不对称传输特性的双端电子元件,在一个方向上对电流具有低(理想为零)电阻,在另一个方向上具有高(理想为无限)电阻。半导体二极管,今天最常见的类型,是一种晶体半导体材料,其P-N结连接到两个电端子。二极管最常见的功能是允许电流在一个方向(称为二极管的正向)通过,而阻止电流在相反的方向(反向)。

光电二极管是一种光电探测器,能够根据工作模式将光转换成电流或电压。光电二极管与普通半导体二极管类似,只是它们可以暴露在外,或者通过窗口或光纤连接进行封装,以允许光到达器件的敏感部分。许多专门用作光电二极管的二极管使用PIN结而不是p-n结来提高响应速度。光电二极管被设计成在反向偏压下工作。

AD200 可见光SPAD–单光子探测器插图1

雪崩光电二极管(APD)是一种高灵敏度半导体器件,利用光电效应(上图)将光转换成电的电子装置。APD可以看作是通过雪崩倍增提供内置第一级增益的光电探测器。通过施加高的反向偏压,由于碰撞电离(雪崩效应),APD显示出内部电流增益效应。一般来说,反向电压越高,增益越高。对于APD,反向电压总是低于击穿电压,APD对单光子的探测不够灵敏。二极管的击穿电压是使二极管反向导通的最小反向电压。
单光子雪崩二极管(SPAD)(也称为盖革模式APD、光子计数器、SPAD或单光子探测器)是一类具有反向偏压p-n结的固态光电探测器,其中光生载流子可因碰撞电离机制触发雪崩电流。SPAD能够探测到低强度信号(低到单个光子)。SPAD和APD的根本区别在于SPAD是专门设计用来在远高于击穿电压的反向偏置电压下工作的(相反,APD在低于击穿电压的偏置电压下工作)。这种操作在文献上也被称为盖革模式,与盖革计数器类似。

SPAD单光子探测器工作原理

AD200 可见光SPAD–单光子探测器插图2
这种模式也被称为盖革模式。APD有过大的偏电压,高于击穿值VBr,并且处于亚稳态(A点)。它保持在这个状态,直到一个主要的电荷载体被创建。在这种情况下,放大实际上是无限的,即使是单光子吸收也会导致导致宏观电流脉冲(A点到B点)的雪崩,可由适当的电子电路容易地检测到。
该电路还必须限制流过装置的电流值,以防止其损坏,并熄灭雪崩以重置装置(点B至C)。经过一段时间后,多余的偏压恢复(C点到A点),APD再次准备好检测单个光子。击穿电压的实际值取决于半导体材料、器件结构和温度。对于InGaAs/InP型APD,一般在50V左右,其探测效率和盖革模式下APD的噪声取决于过大的偏置电压。

AD200单光子探测器

Redwave Labs的AD200是一款紧凑且价格经济的单光子探测器模块,带有内置计数器。AD200基于在可见光谱范围内敏感的硅雪崩光电二极管。AD200的探测器在近可见光区域(约650nm)具有高量子效率,  650nm量子效率可达70%以上,800nm量子效率可达 55%  。AD200具有主动淬火和全数字温度控制功能,标配独立电源。

AD200 可见光SPAD–单光子探测器插图3

AD200 可见光SPAD–单光子探测器插图4

AD200 可见光SPAD–单光子探测器插图5

AD200 可见光SPAD–单光子探测器插图6

应用领域

  • 时间相关单光子计数
  • 单分子探测
  • 粒子物理
  • 光谱学
  • 荧光相关光谱FCS

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AD200 可见光SPAD–单光子探测器插图7

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